• 正性光刻胶
◦ YK-300：适用于半导体制造，具备高分辨率（线宽≤10μm）、耐高温（250℃）、耐酸碱腐蚀特性，主要用于28nm及以上制程的晶圆制造，适配UV光源（365nm/405nm）。
◦ 技术优势：采用进口树脂及光引发剂，绝缘阻抗高（>10^14Ω），满足半导体器件对绝缘性的严苛要求。
• 负性光刻胶
◦ JT-1000：负性胶，主打优异抗深蚀刻性能，分辨率达3μm，适用于功率半导体、MEMS器件制造，可承受氢氟酸（HF）、磷酸（H3PO4）等强腐蚀液处理。
◦ SU-3：经济型负性胶，性价比高，适用于分立器件及低端逻辑芯片，光源适应性广（248nm-436nm），曝光灵敏度≤200mJ/cm²。
2. 显示面板光刻胶
• LCD正性光刻胶YK-200：专为TFT-LCD制程设计，具备高涂布均匀性（膜厚误差±1%）、良好的基板附着力，用于彩色滤光片（CF）和阵列基板（Array）制造，支持8.5代线以上大规模生产。
• 水性感光胶JT-1200：环保型产品，VOC含量<50g/L，符合欧盟RoHS标准，适用于柔性显示基板，可制作20μm以下精细网点，主要供应京东方、TCL等面板厂商。
LCD 光刻胶供应商哪家好?吉田半导体高分辨率+低 VOC 配方!青海油性光刻胶报价
光刻胶系列：
厚板光刻胶 JT - 3001，具备优异分辨率、感光度和抗深蚀刻性能，符合欧盟 ROHS 标准，保质期 1 年；
水油光刻胶 SR - 3308，容量 5L；SU - 3 负性光刻胶，分辨率优异，对比度良好，曝光灵敏度高，光源适应，重量 100g；
液晶平板显示器负性光刻胶 JT - 1000，有 1L 装和 100g 装两种规格，分辨率高，准确性和稳定性好；
JT - 2000 UV 纳米压印光刻胶，耐强酸强碱，耐高温达 250°C，长期可靠性高，粘接强度高，重量 100g；
LCD 正性光刻胶 YK - 200，具有较大曝光、高分辨率、良好涂布和附着力，重量 100g；
半导体正性光刻胶 YK - 300，具备耐热耐酸、耐溶剂性、绝缘阻抗和紧密性，重量 100g；
耐腐蚀负性光刻胶 JT - NF100，重量 1L。
珠海激光光刻胶厂家厚板光刻胶 JT-3001，抗深蚀刻，PCB 电路板制造Preferred!
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正性光刻胶（如 YK-300）
应用场景：用于芯片的精细图案化，如集成电路（IC）、分立器件（二极管、三极管）的制造。
特点：高分辨率（可达亚微米级），适用于多层光刻工艺，确保芯片电路的高精度与可靠性。
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负性光刻胶（如 JT-1000）
应用场景：用于功率半导体（如 MOSFET、IGBT）的制造，以及传感器（如 MEMS）的微结构成型。
特点：抗蚀刻能力强，适合复杂图形的转移，尤其在深宽比要求较高的工艺中表现优异。
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纳米压印光刻胶（JT-2000）
应用场景：第三代半导体（GaN、SiC）芯片、量子点器件及微流控芯片的制造。特点：耐高温（250℃）、耐酸碱，支持纳米级精度图案复制，降低芯片的制造成本。
技术挑战：
◦ 技术壁垒：EUV光刻胶、3nm以下制程材料仍处研发阶段，光刻胶分辨率、灵敏度与国际水平存在差距（如东京应化ArF胶分辨率达14nm）。
◦ 供应链风险：树脂、光引发剂等原材料自给率不足8%，部分依赖进口（如日本信越化学）；美国对华技术封锁可能影响设备采购。
◦ 客户验证：光刻胶需通过晶圆厂全流程测试，验证周期长（1-2年），国内企业在头部客户渗透率较低。
未来展望：
◦ 短期（2025-2027年）：KrF/ArF光刻胶国产化率预计提升至10%-15%，南大光电、上海新阳等企业实现28nm-7nm制程产品量产，部分替代日本进口。
◦ 中期（2028-2030年）：EUV光刻胶进入中试验证阶段，原材料自给率提升至30%，国内企业在全球市场份额突破15%。
◦ 长期（2030年后）：实现光刻胶全产业链自主可控，技术指标对标国际前列，成为全球半导体材料重要供应商。
吉田产业链协同与政策红利。
广东吉田半导体材料有限公司多种光刻胶产品，主要涵盖厚板、负性、正性、纳米压印及光刻胶等类别，以满足不同领域的需求。
厚板光刻胶：JT-3001 型号，具有优异的分辨率和感光度，抗深蚀刻性能良好，符合欧盟 ROHS 标准，保质期 1 年。适用于对精度和抗蚀刻要求高的厚板光刻工艺，如特定电路板制造。
负性光刻胶
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SU-3 负性光刻胶：分辨率优异，对比度良好，曝光灵敏度高，光源适应，重量 100g。常用于对曝光精度和光源适应性要求较高的微纳加工、半导体制造等领域。
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负性光刻胶 JT-1000：有 1L 和 100g 两种规格，具有优异的分辨率、良好的对比度和高曝光灵敏度，光源适应。主要应用于对光刻精度要求高的领域，如半导体器件制造。
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耐腐蚀负性光刻胶 JT-NF100：重量 1L，具备耐腐蚀特性。适用于有腐蚀风险的光刻工艺，如特殊环境下的半导体加工或电路板制造。
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客户认证：从实验室到产线的漫长“闯关”
验证周期与试错成本
半导体光刻胶需经历PRS（性能测试）、STR（小试）、MSTR（中批量验证）等阶段，周期长达2-3年。南大光电的ArF光刻胶自2021年启动验证，直至2025年才通过客户50nm闪存平台认证。试错成本极高，单次晶圆测试费用超百万元，且客户为维持产线稳定，通常不愿更换供应商。
设备与工艺的协同难题
光刻胶需与光刻机、涂胶显影机等设备高度匹配。国内企业因缺乏ASML EUV光刻机测试资源，只能依赖二手设备或与晶圆厂合作验证，导致研发效率低下。例如，华中科技大学团队开发的EUV光刻胶因无法接入ASML原型机测试，性能参数难以对标国际。
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